文件名称:ARM JTAG 调试原理
- 所属分类：
- 微处理器(ARM/PowerPC等)
- 资源属性：
- [PDF]
- 上传时间：
- 2012-11-26
- 文件大小：
- 442kb
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- 李*
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这篇文章主要介绍ARM JTAG调试的基本原理。基本的内容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介绍，在此基础上，结合ARM7TDMI详细介绍了的JTAG调试原理。-This article introduces the ARM JTAG debugging basic tenets. The basic elements include the TAP (TEST PORT ACCESS) and BOUNDARY- SCAN ARCHITECTURE presentation on this basis, the combined ARM7TDMI details of the principles of JTAG debugging.
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