文件名称:JTAGrep

  • 所属分类:
  • 软件工程
  • 资源属性:
  • [WORD]
  • 上传时间:
  • 2012-11-26
  • 文件大小:
  • 280kb
  • 下载次数:
  • 0次
  • 提 供 者:
  • jaken*****
  • 相关连接:
  • 下载说明:
  • 别用迅雷下载,失败请重下,重下不扣分!

介绍说明--下载内容均来自于网络,请自行研究使用

OPEN-JTAG ARM JTAG 測試原理

1 前言

本篇報告主要介紹ARM JTAG測試的基本原理。基本的內容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介紹,在此基礎上,結合ARM7TDMI詳細介紹了的JTAG測試原理。

2 IEEE Standard 1149.1 - Test Access Port and Boundary-Scan Architecture

從IEEE的JTAG測試標準開始,JTAG是JOINT TEST ACTION GROUP的簡稱。IEEE 1149.1標準最初是由JTAG這個組織提出,最終由IEEE批准並且標準化,所以,IEEE 1149.1這個標準一般也俗稱JTAG測試標準。

接下來介紹TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的基本架構。

-OPEN-JTAG ARM JTAG Test Principle 1 Introduction This report introduces the ARM JTAG test the basic principles. Basic elements include TAP (TEST ACCESS PORT) and BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE introduction On this basis, the combination of ARM7TDMI detailed introduction of the JTAG test principle. 2 IEEE Standard 1149.1- Test Access Port and Boundary-Scan Architecture from the IEEE standard JTAG test began, JTAG is the JOINT TEST ACTION GROUP abbreviation. IEEE 1149.1 standard was originally proposed by JTAG this organization, and ultimately approved by the IEEE and standardization, therefore, IEEE 1149.1 standard generally known as the JTAG test standard. Introduce the next TAP (TEST ACCESS PORT) and BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE basic structure.
(系统自动生成,下载前可以参看下载内容)

下载文件列表

JTAGrep.doc

相关说明

  • 本站资源为会员上传分享交流与学习,如有侵犯您的权益,请联系我们删除.
  • 本站是交换下载平台,提供交流渠道,下载内容来自于网络,除下载问题外,其它问题请自行百度更多...
  • 请直接用浏览器下载本站内容,不要使用迅雷之类的下载软件,用WinRAR最新版进行解压.
  • 如果您发现内容无法下载,请稍后再次尝试;或者到消费记录里找到下载记录反馈给我们.
  • 下载后发现下载的内容跟说明不相乎,请到消费记录里找到下载记录反馈给我们,经确认后退回积分.
  • 如下载前有疑问,可以通过点击"提供者"的名字,查看对方的联系方式,联系对方咨询.

相关评论

暂无评论内容.

发表评论

*主  题:
*内  容:
*验 证 码:

源码中国 www.ymcn.org