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[编辑器/阅读器] CVR-100U_SDK
说明:华视电子二代身份证阅读器开发包,支持java、c#等语言,提供dll库,并附有开发文档-CTS Electronic generation ID card reader development kits, support java, c# and other languages, provided dll library, along with the development of documentation<江江> 在 2025-02-27 上传 | 大小:19.58mb | 下载:0
[编译器/词法分析] SyntaxAnalysis
说明:对如下文法E -> E+T | E-T | T T -> T*F | T/F | F F -> id | (E) | num 用自底向上的语法制导翻译技术实现分析和翻译 -For the following grammar E-> E+T | ET | TT-> T* F | T/F | FF-> id | (E) | num implementation analysis and t<yingkkk> 在 2025-02-27 上传 | 大小:2kb | 下载:0
[书籍源码] firmware_mpgl2_pong1_start
说明: All bitmap data is generated using the LCD Worksheet NHD-C12864LZ.xlsm tool. Data is simply copied and pasted into this file, though manual definitions can be written if desired. For any file that uses the bitmaps<Kereh> 在 2025-02-27 上传 | 大小:459kb | 下载:0
[汇编语言] BUTONGPINLV
说明:利用51单片机输出占空比不同的频率。 利用51单片机输出占空比不同的频率-Output duty cycle at different frequencies<老大> 在 2025-02-27 上传 | 大小:262kb | 下载:0
[LabView] transistor-tester-based-on-LabVIEW
说明:本文介绍一种基于NI LabVIEW和北京君合泰科技有限公司U18数据采集卡的晶体管特性测试仪的设计方法,内容包含循环扫描数据采集、回扫消隐、多曲线显示、传输系数计算、被测硬件电路设计等,并给出详细的前面板图和程序框图以及三极管、MOS管、光电耦合器等部分器件的特性曲线测试例子-This paper introduces a design method of transistor characteristic tester based<wenzhong> 在 2025-02-27 上传 | 大小:57kb | 下载:0