文件名称:ARM JTAG Debug
- 所属分类:
- VHDL编程
- 资源属性:
- [PDF]
- 上传时间:
- 2017-07-06
- 文件大小:
- 452kb
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- ZhouG******
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这篇文章主要介绍 ARM JTAG 调试的基本原理。 基本的内容包括了 TAP (TEST ACCESS PORT) 和 BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE 的介绍, 在此基础上, 结合 ARM7TDMI 详细介绍了的 JTAG 调试原理。(OPEN-JTAG Development Group.)
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ARM JTAG调试原理.pdf