文件名称:DFT_BIST_for_SOC
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用于SoC设计的DFT和BIST，讲解了在SOC设计中需要考虑的可测性设计问题
-SoC design for DFT and BIST, explain in the SOC design need to consider design-for-test issues
-SoC design for DFT and BIST, explain in the SOC design need to consider design-for-test issues
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