文件名称:VLSI-test-technology
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中国科学院计算所李晓维研究员的VLSI测试与可测试性设计讲义-Calculated by the Chinese Academy of Sciences researcher Li Xiaowei of VLSI testing and design for testability notes
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下载文件列表
program.pdf
第1讲20070910.ppt
第2讲20070917.ppt
第3讲20070924.ppt
第4讲2007-10-15.ppt
第5讲2007-10-22.ppt
第6讲2007-10-29.ppt
第7讲2007-11-05.ppt
预讲20070910.ppt
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第2讲20070917.ppt
第3讲20070924.ppt
第4讲2007-10-15.ppt
第5讲2007-10-22.ppt
第6讲2007-10-29.ppt
第7讲2007-11-05.ppt
预讲20070910.ppt