文件名称:MCU

  • 所属分类:
  • 单片机(51,AVR,MSP430等)
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  • 2013-03-16
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实验二 累加和串并行显示实验

一.实验目的:学习80C196KC单片机I/O和T2定时应用。

二.实验内容:将4000H首地址的16单元的内容累加,取结果的低4位在P1口并行显示5秒钟,“1”灯亮,“0”灯暗;然后再在P1.0串行输出结果先输出4位高位,后输出4位低位。“1”灯亮,“0”灯暗,每位持续时间两秒。

三.实验预备知识:采用T2内部定时功能。相关中断屏蔽,IOC控制寄存器,中断允许,中断向量,中断程序格式。(80c196kc,晶振频率6Mhz)

四.实验步骤:P1.0…P1.3对应接L0…L3。先在4000H首地址的16单元内任意键入数据后,运行程序,灯亮后观察结果。-Experiment II cumulative serial and parallel display experiment. Purpose: the learning 80C196KC MCU I/O and T2 timing applications. II. Low 4 Experiment: 4000H first address of a 16-unit accumulation, whichever results in the P1 port parallel display 5 seconds, then lights " 1" , " 0" lights dark P1.0 serial output results The first output 4 high after output 4 low. Lights " 1" , " 0" lights dark, each duration is 2. III. Experimental Preliminaries: T2 internal timing function. Related interrupt mask, IOC control registers, interrupt enable, interrupt vector, interrupt program format. (80c196kc, the crystal frequency 6Mhz) four. Experimental steps: P1.0 ... P1.3 corresponding pick L0 ... L3. After the first 16 units within the 4000H first address any type of data, run the program, the lights and observe the results.
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