[单片机(51,AVR,MSP430等)] C51

说明：2.4寸TFT彩屏模测试程序 开机就显示触点-2.4-inch TFT color screen mode test procedure
<chw> 在 2025-01-15 上传 | 大小：4kb | 下载：0

[微处理器(ARM/PowerPC等)] UART

说明：s3C2440 的串口输出裸机程序，机遇ADS开发的-s3C2440 serial output bare metal program
<高海滨> 在 2025-01-15 上传 | 大小：144kb | 下载：0

[微处理器(ARM/PowerPC等)] IIC

说明：SC2440_IIC 裸机通信程序机遇ADS 1.2-SC2440_IIC bare communication program opportunities ADS 1.2
<高海滨> 在 2025-01-15 上传 | 大小：172kb | 下载：0

[微处理器(ARM/PowerPC等)] WatchDog

说明：s3c2440看门狗 s3c2440看门狗- s3c2440 s3c2440 watchdog Watchdog
<高海滨> 在 2025-01-15 上传 | 大小：130kb | 下载：0

[嵌入式/单片机编程] AT89C51P1602-CLOCK

说明：纯(C51)单片机时钟 1602显示 proteus仿真-Pure (C51) 1602 microcontroller clock display proteus simulation
<shishirong> 在 2025-01-15 上传 | 大小：76kb | 下载：0

[其他嵌入式/单片机内容] ad

说明：基于AVR单片机的ADC功能的实现，用数码管显示电阻值。-Based on AVR microcontroller ADC functions are implemented with digital display resistance.
<liujun> 在 2025-01-15 上传 | 大小：1kb | 下载：0

[其他嵌入式/单片机内容] PG2000

说明：window下S5编程软件w indow下S5编程软件window下S5编程软件-under the window S5 programming software
<hzht> 在 2025-01-15 上传 | 大小：6.2mb | 下载：0

[单片机(51,AVR,MSP430等)] USART

说明：这是avr单片机系列mega32的usart调试程序，实现基本的发送接受功能，本人自己编写可用，可用作子函数使用，使用串口调试助手实现-This is the avr mega32 microcontroller family usart debugging procedures, to achieve the basic function of sending and receiving, I have written is avai
<亓玉树> 在 2025-01-15 上传 | 大小：7kb | 下载：0

[单片机(51,AVR,MSP430等)] (8X16)

说明：nokia 5110 的一些相关资料和一些例程，适合学习51单片机的同学们学习借鉴！-nokia 5110 some of the relevant information and some routines for learning MCU 51 students to learn from!
<闲者> 在 2025-01-15 上传 | 大小：18kb | 下载：0

[嵌入式Linux] tslib-1.0

说明：Tslib是一个开源的程序，能够为触摸屏驱动获得的采样提供诸如滤波、去抖、校准等功能，通常作为触摸屏驱动的适配层，为上层的应用提供了一个统一的接口。-Tslib is an open source program that can get drivers for the touch screen to provide such a sampling filter, to shake, calibration and other func
<> 在 2025-01-15 上传 | 大小：78kb | 下载：0

[其他嵌入式/单片机内容] GPIO

说明：gpio闪灯，代码实现流水灯每个LED灯轮流点）的效果-gpio flashing lights, light water code points for each LED lamp turns) effect
<梁天海> 在 2025-01-15 上传 | 大小：302kb | 下载：0

[VHDL编程] vhdl-all-english

说明：A major obstacle that stands in the way of efficient test response compaction are the unknown values (x-values) captured by scan cells during testing. If test responses with s and the correctness of the compactor
<shankar.m> 在 2025-01-15 上传 | 大小：557kb | 下载：0