文件名称:chip-test
- 所属分类：
- 单片机(51,AVR,MSP430等)
- 资源属性：
- [PPT]
- 上传时间：
- 2012-11-26
- 文件大小：
- 2.15mb
- 下载次数：
- 0次
- 提 供 者：
- renh****
- 相关连接：
- 无
- 下载说明：
- 别用迅雷下载，失败请重下，重下不扣分！
介绍说明－－下载内容均来自于网络，请自行研究使用
随着超大规模集成电路的发展，其尺寸变的越来越小，电路越来越复杂，所以测试变得越来越重要-chip test is more and more important
(系统自动生成,下载前可以参看下载内容)
下载文件列表
（清华大学）芯片测试\BIST.doc
....................\BIST.ppt
....................\BoundaryScan.doc
....................\BoundaryScan.ppt
....................\chapter7.doc
....................\CombinationalTG.doc
....................\CombinationalTG.ppt
....................\dft.doc
....................\dft.ppt
....................\FaultSim.doc
....................\FaultSim.ppt
....................\Fundamentals.doc
....................\Fundamentals.ppt
....................\IDDQ.doc
....................\IDDQ.ppt
....................\MemoryTest.ppt
....................\SequentialTG.ppt
....................\tm.doc
....................\tm.ppt
....................\使用说明请参看右侧注释====〉〉.txt
（清华大学）芯片测试
....................\BIST.ppt
....................\BoundaryScan.doc
....................\BoundaryScan.ppt
....................\chapter7.doc
....................\CombinationalTG.doc
....................\CombinationalTG.ppt
....................\dft.doc
....................\dft.ppt
....................\FaultSim.doc
....................\FaultSim.ppt
....................\Fundamentals.doc
....................\Fundamentals.ppt
....................\IDDQ.doc
....................\IDDQ.ppt
....................\MemoryTest.ppt
....................\SequentialTG.ppt
....................\tm.doc
....................\tm.ppt
....................\使用说明请参看右侧注释====〉〉.txt
（清华大学）芯片测试