文件名称:ARM_JTAG_principle
- 所属分类:
- 微处理器(ARM/PowerPC等)
- 资源属性:
- [PDF]
- 上传时间:
- 2012-11-26
- 文件大小:
- 452kb
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- maho*****
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主要介绍ARM JTAG调试的基本原理。基本的内容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介绍,在此基础上,结合ARM7TDMI详细介绍了的JTAG调试原理。-Introduces the basic principles of ARM JTAG debug. The basic elements include TAP (TEST ACCESS PORT) and BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE introduction, in this based on the combination described in detail in the ARM7TDMI JTAG debugging principles.
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