功能检验原理和方法，Springer2006年出版的新书，主要讲半导体器件设计功能的检验原理和方法

功能检验原理和方法，Springer2006年出版的新书，主要讲半导体器件设计功能的检验原理和方法-Principles and methods of functional testing, Springer2006 new book was published, the main design features of semiconductor devices stresses the test of principles and m