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超大规模数字集成电路测试
- 基于stack-at fault的超大规模数字集成电路测试向量生成算法（ATPG）
huffman_Golomb_COMPRESS
- 从 Mentor Graphics 的自动测试图形生成（ATPG）工具 FastScan的 测试文档中提取出测试电路（CUT）的测试模式，生成便于对应压缩算法的文件 格式。 本文中， 给出了 2 种压缩测试模式的方法， 一种是基于统计的哈夫曼编码， 一种是基于差分运算的Golomb 编码。本次毕业设计中，在熟悉Mentor Graphics ATPG工具 FastScan的基本功能和其主要的测试模式输出文件的格式的基础
atalanta
- 基于stack-at fault的超大规模数字集成电路自动测试向量生成算法（ATPG）。输入.bench格式，输出测试向量。-Automatic test pattern generation (ATPG) algorithm for VLSI circuits
Chapter-6-ATPG
- about adavance self genersated test sequnce in VLSI
c00256987
- the data is related to atpg
dftchop
- DFT chop for ATPG used for at-speed testing so that the ATE need not to be expensive tester.
atalantadll
- 亚特兰大（ATPG算法），用于产生集成电路测试矢量的源代码 -Atlanta (ATPG algorithm),it is the source code that used to generate the the integrated circuit test vector
07~chapter-04-atpg
- Slides from "VLSI test" book.
DADDA
- Characteristics of the three main algorithms: Roth s D-Algorithm (D-ALG) defined the calculus and algorithms for ATPG using D-cubes. Goel s PODEM used path propagation constraints to limit the ATPG search space and i
VlsiTesting
- atpg, automatic test pattern generation