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ElasticNet
- 使用到的参数跟谈到弹性网络的那一章里头所讲的是一样的， ke 则是终止条件。如果 step 被打勾，则程式在每一步之间会暂停 100毫秒（或其他使用者输入的数值）。如果 Random 被打勾，则程式会以系统时间作为乱数产生器的种子数，否则，就以使用者输入的数（ Random 右边那一格）为种子数。 你可以利用 load 来载入推销员问题档与其最佳解，如此便可比较弹性网络所找出来的解与最佳解差了多少。 Central,
Algorithm
- c++经典小程序。包括河内塔 费式数列 巴斯卡三角形 三色棋 老鼠走迷官（一） 老鼠走迷官（二） 骑士走棋盘 八个皇后 八枚银币 生命游戏 字串核对 双色、三色河内塔 背包问题（Knapsack Problem） 数、运算 蒙地卡罗法求 PI Eratosthenes筛选求质数 超长整数运算（大数运算） 长 PI 最大公因数、最小
乱数产生器
- 乱数产生器
乱数产生
- 产生一个乱数的整数
ElasticNet
- 使用到的参数跟谈到弹性网络的那一章里头所讲的是一样的， ke 则是终止条件。如果 step 被打勾，则程式在每一步之间会暂停 100毫秒（或其他使用者输入的数值）。如果 Random 被打勾，则程式会以系统时间作为乱数产生器的种子数，否则，就以使用者输入的数（ Random 右边那一格）为种子数。 你可以利用 load 来载入推销员问题档与其最佳解，如此便可比较弹性网络所找出来的解与最佳解差了多少。 Central,
Algorithm
- c++经典小程序。包括河内塔 费式数列 巴斯卡三角形 三色棋 老鼠走迷官（一） 老鼠走迷官（二） 骑士走棋盘 八个皇后 八枚银币 生命游戏 字串核对 双色、三色河内塔 背包问题（Knapsack Problem） 数、运算 蒙地卡罗法求 PI Eratosthenes筛选求质数 超长整数运算（大数运算） 长 PI 最大公因数、最小
COD
- 这是data mining的维度魔咒实作之一 简单介绍在资料库中当资料的dim愈高愈多，在计算Euclidean Distance时会降低,如图所示 资料皆为乱数产生-This is the dimension of data mining as one of curse is a brief introduction in the database when the information the higher the mor
random9
- 主要是上数计数器利用振荡频率产生乱数变化的原理(0~9)-Mainly on the number of counters to use random numbers generated oscillation frequency results (0 ~ 9)
Picture
- 1. 使用 Canvas->CopyRect() 分割图片 2. 动态产生物件 3. 使用 TList 储存元件 4. srand, random 产生乱数的方法 5. 产生不重复乱数(抽牌法) -1. Using Canvas-> CopyRect () split image 2. Dynamically generated object 3. Use TList storage components
C-Program-examples
- 河内塔 费式数列 巴斯卡三角形 三色棋 老鼠走迷官（一） 老鼠走迷官（二） 骑士走棋盘 八个皇后 八枚银币 生命游戏 字串核对 双色、三色河内塔 背包问题（Knapsack Problem） 数、运算 蒙地卡罗法求 PI Eratosthenes筛选求质数 超长整数运算（大数运算） 长 PI 最大公因数、最小公倍数、因式分解
arrlist
- 本程序用于在数组中随即产生五十个数字，且是乱序的。-This procedure used to in the array occurs fifty, and the chaos sequence.
RandDataGen
- 1. 乱数产生(产生的位元组可转换成各种格式) 2. 编码转换(位元组或字符串转成Base64,Java/C#宣告格式等)-1. random number generator (bytes generated can be converted into a variety of formats) 2. encode/decode (string or bytes convert into Base64, Java/C# dec
a51
- 1．A51产生乱数的频数检验及其二次检验； 2．A51产生乱数的序偶检验及其二次检验； 3．A51产生乱数的自相关检验及其二次检验。 -1. A51 produces frequency test and the second test nonce 2. A51 dual test sequence generation and secondary inspection nonce 3. A51 produce aut