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[行业发展研究] NRS4000_cpu
说明:现代先进微处理器有非常高的集成度和复杂度,又有寄存器堆、Cache等嵌入式部件,而且芯片管脚数相对较少,必须要有一定的自测试设计和其它的可测试性设计来简化测试代码,提高故障覆盖率。本文简要讨论NRS4000微处理器芯片的以边界扫描测试为主体,以自测试为补充的可测试性设计框架。着重介绍芯片的边界扫描设计和芯片中译码控制器PLA和微程序ROM以及采用内嵌RAM结构的指令Cache和寄存器堆的内建自测试设计。仿真结果表明,这些可测试性设计大大<chengp> 在 2025-04-22 上传 | 大小:40kb | 下载:0
[行业发展研究] pvm
说明:A Beginner s Guide to PVM Parallel Virtual Machine<alferedbin> 在 2025-04-22 上传 | 大小:39kb | 下载:0
[行业发展研究] semi-conductors
说明: topic talking about semi conductors material development<back> 在 2025-04-22 上传 | 大小:39kb | 下载:0
[行业发展研究] KM-UM-Guide
说明:This will help in understanding of KM and UM interaction<Irfan> 在 2025-04-22 上传 | 大小:39kb | 下载:0