资源列表

« 1 2 ... .73 .74 .75 .76 .77 278.79 .80 .81 .82 .83 ... 968 »

[其他行业log_antilog_pspice

说明:PSpice8 circuit simulation of log and antilog operations. In total.sch a circuit is implemented to perform Vo=Vi^(1/3).-PSpice8 circuit simulation of log and antilog operations. In total.sch a circuit is implemented to
<sl4y3r> 在 2024-11-13 上传 | 大小:238kb | 下载:0

[其他行业mult4quad_pspice

说明:PSpice8 circuit simulation of a four quadrants multiplier.
<sl4y3r> 在 2024-11-13 上传 | 大小:51kb | 下载:0

[其他行业mult2quad_pspice

说明:PSpice8 circuit simulation of a two quadrants multiplier.
<sl4y3r> 在 2024-11-13 上传 | 大小:137kb | 下载:0

[其他行业mult4quad_ltspice

说明:LTSpice circuit simulation of a four quadrants multiplier.
<sl4y3r> 在 2024-11-13 上传 | 大小:3kb | 下载:0

[其他行业SecretSharing

说明:Secret Sharing By Seth Rogers
<sweetu> 在 2024-11-13 上传 | 大小:181kb | 下载:0

[其他行业Capacitor_Voltage_test

说明:控制吉时利公司的CV590设备,来测试半导体器件以及分立器件的电容及电导程序及算法。-control CV590 intruments to measure capacitor and conductor of wafer or capacitor.
<zhaoanyu> 在 2024-11-13 上传 | 大小:21kb | 下载:0

[其他行业chargepumping

说明:利用charge pumping技术,来测量半导体器件的耐受性及可靠性等相关指标。系统一般包含脉冲源和SMU(源测量仪表)-an skill and measurement method which is using charge pumping to detect characterizaiton of chips
<zhaoanyu> 在 2024-11-13 上传 | 大小:153kb | 下载:0

[其他行业Reliablity_ramp

说明:实现了Jedec标准中对超薄膜氧化层的MOS电容的Time-zero可靠性测试方法。可直接用于半导体器件可靠性测试中-a realization of Time-zero dilectric breakdown according to Jedec standard,which can use to achieve reliability of wafer
<zhaoanyu> 在 2024-11-13 上传 | 大小:37kb | 下载:0

[其他行业flow_calculations

说明:matlab 计算电力系统潮流计算通用程序-power flow
<jjk> 在 2024-11-13 上传 | 大小:4kb | 下载:0

[其他行业ICICI

说明:Banking management software simulates icici bank
<Babu> 在 2024-11-13 上传 | 大小:118kb | 下载:0

[其他行业student4

说明:SIMPLE STUDENT MANAGEMENT SYSTEM
<prem> 在 2024-11-13 上传 | 大小:28kb | 下载:0

[其他行业Tab2Shp

说明:实现MAPINFO数据格式*tab批量转换为*shp-Achieve MAPINFO data format* tab batch convert* shp
<张涛> 在 2024-11-13 上传 | 大小:93kb | 下载:0
« 1 2 ... .73 .74 .75 .76 .77 278.79 .80 .81 .82 .83 ... 968 »

源码中国 www.ymcn.org