[单片机(51,AVR,MSP430等)] x9313qudong

说明：数字电位器x9313的驱动程序，该程序实现对x9313电阻值的改变-Digital Potentiometers x9313 driver, the process of achieving change in resistance value x9313
<王贺> 在 2025-02-28 上传 | 大小：1kb | 下载：0

[单片机(51,AVR,MSP430等)] HX711PLCD1602PSTC12xx-V2.4

说明：【淘宝购.电子秤开发板配套资料V2.4】-hx711 and lcd1602 ,stc12xxx
<gzoursm> 在 2025-02-28 上传 | 大小：44kb | 下载：0

[单片机(51,AVR,MSP430等)] new-one-fr-22

说明：【淘宝购.电机驱动￥22含电路原理图、PROTEUS仿真、源码】-motor drive circuit schematics, PROTEUS simulation, source
<gzoursm> 在 2025-02-28 上传 | 大小：181kb | 下载：0

[单片机(51,AVR,MSP430等)] zfr

说明：【淘宝购.电机驱动含源码】原理图 仿真 高性价比的电机驱动板-Taobao purchase. Motor drive including the source schematic simulation cost-effective motor driver board
<gzoursm> 在 2025-02-28 上传 | 大小：150kb | 下载：0

[单片机(51,AVR,MSP430等)] ARDUINO-PN532_SPI

说明：PN532 SPI arduino source and example
<headphone> 在 2025-02-28 上传 | 大小：8kb | 下载：0

[单片机(51,AVR,MSP430等)] ARDUINO-Ndef-dev

说明：NFC NDEF Arduino source and example
<headphone> 在 2025-02-28 上传 | 大小：24kb | 下载：0

[单片机(51,AVR,MSP430等)] NFC-P2Pexample

说明：NFC P2P source and example
<headphone> 在 2025-02-28 上传 | 大小：249kb | 下载：0

[单片机(51,AVR,MSP430等)] 12864

说明：gcog12864 任意一点写入，可写入或擦掉12864点阵任意一点-gcog12864 write any point
<毕红> 在 2025-02-28 上传 | 大小：25kb | 下载：0

[嵌入式Linux] 453345486pthread

说明：这是一个嵌入式linux下的多线程代码，能通过交叉编译运行-关闭翻译英语中文德语检测语言 中文(简体)英语日语 翻译文字或网页 这是一个嵌入式linux下的串口驱动代码，能通过交叉编译运行 请键入文字或网站地址，或者上传文档。 取消 Zhè shì yīgè qiànrù shì linux xià de chuànkǒu qūdòng dàimǎ, néng tōngguò jiāochā biānyì
<Khan> 在 2025-02-28 上传 | 大小：1kb | 下载：0

[VHDL编程] handbook

说明：Abstract—This paper presents a Viterbi-based test compression algorithm/architecture that provides high encoding efficiency and scalability with respect to the number of test channels. The proposed scheme finds a s
<shankar.m> 在 2025-02-28 上传 | 大小：3.65mb | 下载：0

[VHDL编程] upload

说明：A major obstacle that stands in the way of efficient test response compaction are the unknown values (x-values) captured by scan cells during testing. If test responses with x-values are compacted, some of the outp
<shankar.m> 在 2025-02-28 上传 | 大小：33kb | 下载：0

[VHDL编程] source

说明：A major obstacle that stands in the way of efficient test response compaction are the unknown values (x-values) captured by scan cells during testing. If test responses with x-values are compacted, some of the outp
<shankar.m> 在 2025-02-28 上传 | 大小：10kb | 下载：0